日本理學(xué)X射線(xiàn)熒光光譜儀的幾大特點(diǎn)來(lái)了解下呢

點(diǎn)擊次數：904 更新時(shí)間：2022-09-07

熒光光譜儀又稱(chēng)熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過(guò)熒光光譜的測試可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、熒光壽命以及液體樣品濃度等方面的信息。光譜儀的組成在硬件上相似的，其差別主要在于硬件材質(zhì)、儀器精密程度以及部分次要功能上的不同。此外，不同熒光光譜儀所使用的軟件在界面和功能上存在較大的差別。熒光光譜儀的重要的部件包括光源、激發(fā)單色器、發(fā)射單色器、光電倍增光（PMT）以及外聯(lián)設備電腦等。

日本理學(xué)X射線(xiàn)熒光光譜儀特點(diǎn)

1、儀器結構簡(jiǎn)單，省略了晶體的精密運動(dòng)裝置。還避免了晶體衍射所造成的強度損失。光源使用的X射線(xiàn)管功率低，一般在100W以下，不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統，空氣冷卻即可，節省電力。

2、能量色散形熒光光儀的光源、樣品、檢測器彼此靠得很近，X射線(xiàn)的利用率很高，不需光學(xué)聚集，在累積整個(gè)光譜時(shí)，對樣品位置變化不象波長(cháng)色散型熒光光儀那樣敏感，對樣品形狀也無(wú)特殊要求。

3、在能量色散譜儀中，樣品發(fā)出的全部特征X射線(xiàn)光子同時(shí)進(jìn)入檢測器，這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時(shí)累積和顯示全部能譜(包括背景)的基礎，也能清楚地表明背景和干擾線(xiàn)。因此，半導體檢測器X射線(xiàn)光譜儀能比晶體X射線(xiàn)光譜儀快而方便地完成定性分析工作。

4、能量色散法的一個(gè)附帶優(yōu)點(diǎn)是測量整個(gè)分析線(xiàn)脈沖高度分布的積分程度，而不是峰頂強度。因此，減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線(xiàn)波長(cháng)的漂移影響。由于同時(shí)累積還減小了儀器的漂移影響，提高凈計數的統計精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時(shí)累積觀(guān)察和測量所有元素，而不是按特定譜線(xiàn)分析特定元素。因此，減小了偶然錯誤判斷某元素的可能性。

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