X射線(xiàn)熒光光譜儀產(chǎn)品是用來(lái)測什么的呢

點(diǎn)擊次數：829 更新時(shí)間：2023-12-13

　　X射線(xiàn)熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer，簡(jiǎn)稱(chēng)：XRF光譜儀)，是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線(xiàn)熒光(X-ray fluorescence，XRF)是用高能量X射線(xiàn)或伽瑪射線(xiàn)轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級X射線(xiàn)。這種現象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究。

　　X熒光光譜儀主要由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測系統構成。其原理就是：X射線(xiàn)管通過(guò)產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn))，來(lái)激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量或者波長(cháng)。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(cháng)的X射線(xiàn)，因此,只要測出熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)或者能量,就可以知道元素的種類(lèi)，這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎。此外,熒光X射線(xiàn)的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系，據此，可以進(jìn)行元素定量分析。用X射線(xiàn)照射試樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長(cháng)的熒光X射線(xiàn)，需要把混合的X射線(xiàn)按波長(cháng)(或能量)分開(kāi)，分別測量不同波長(cháng)(或能量)的X射線(xiàn)的強度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X熒光光譜儀。

　　當材料暴露在短波長(cháng)X光檢查，或伽馬射線(xiàn)，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會(huì )“回補”進(jìn)入低軌道。在“回補”的過(guò)程會(huì )釋出多余的能源，光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。

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